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基于PXI总线的综合测试设备设计与实现-现代信息科技2024年05期

基于PXI总线的综合测试设备设计与实现

作者:王亚京 字体:      

收稿日期:2023-08-02

DOI:10.19850/j.cnki.2096-4706.2024.05.012

摘  要:综合测试设备在被测控制器产品的生产过程中起着关键作用,可以提供总装后的整机调试、环境适应性试验、交付验收试验以及故障排查等功(试读)...

现代信息科技

2024年第05期