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基于正交算法的车规级芯片耦合故障研究-现代信息科技2024年12期

基于正交算法的车规级芯片耦合故障研究

作者:张胜强 李明阳 翟瑞卿 李帅东 李予佳 字体:      

摘  要:从汽车芯片信息安全角度出发,由于汽车安全芯片工作主要受环境中的电磁、电压和光的影响,在阐明了电磁、电压和光对安全芯片的影响原理的基础上,综合考虑影响芯片工作的三种因素和因素间的相互作用,提(试读)...

现代信息科技

2024年第12期