摘 要：芯片引脚共面性检测是集成电路生产过程中的重要环节，关系到集成电路芯片性能的发挥，但是现行方法检测结果置信水平、检出率比较低。因此本文提出基于单目视觉的集成电路芯片引脚共面性检测方法研究，利用相（试读）...
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